加速壽命試驗通過提高應(yīng)力水平，快速激發(fā)失效，以推算正常工況下的壽命與可靠性。

一、ALT標(biāo)準(zhǔn)框架

試驗?zāi)康呐c指標(biāo)

指標(biāo)：MTBF、B10壽命、失效分布模型（如Weibull）。

樣品選擇

代表性樣品≥5–10個，覆蓋量產(chǎn)工藝波動。

應(yīng)力選擇與剖面

應(yīng)力類型：溫度、振動、負(fù)載。

應(yīng)力水平：3–5個水平，應(yīng)力略高于工況。

剖面：多用恒定應(yīng)力，也可步進(jìn)或序進(jìn)。

失效判據(jù)

明確何為失效：如葉片可見裂紋、電機電流超額定20%、微動開關(guān)阻抗>1 Ω。

數(shù)據(jù)收集與失效分析

記錄失效時間，進(jìn)行根本原因分析（RCA），確認(rèn)失效機理與預(yù)期一致。

模型建立與外推

加速模型：溫度用Arrhenius模型，振動用逆冪律模型。

外推壽命：將模型外推至正常應(yīng)力（如40℃），計算MTBF/B10壽命及置信區(qū)間。